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Documentación sobre ciencia de materiales

Notas de aplicación

Vídeo

  • StreamHR Rapide - graphene [en]

    Using a Renishaw inVia confocal Raman microscope and WiRE™ software to image graphene. The image build up is shown at true data collection speed using StreamHR Rapide. The analysis clearly shows monolayer and multilayer graphene. A second image shows defects in the graphene.

Ejemplos de aplicaciones

También hemos elaborado una variedad de ejemplos de aplicaciones, entre los que se incluyen los siguientes.

Si necesita más información, contacte con su representante local utilizando el botón que aparece a continuación y cite la referencia del documento que corresponda.  

Referencia del documentoDescripción del documento
AS001

Identificación SEM-SCA de residuos en un componente de acero

Se facilitaron componentes de acero, que exhibían una resistencia al desgaste en servicio deficiente, para identificar la naturaleza de un residuo sospechoso observado con un microscopio estereoscópico. La espectroscopia In-SEM Raman determinó que el residuo estaba formado por una pasta que contenía partículas: las partículas se identificaron como diamante (caracterizado por una banda a 1333 cm-1) y la pasta de soporte como una sustancia orgánica. El residuo es muy probablemente un resto del compuesto utilizado para el pulido.

AS007

Espectros comunes de sustrato que utilizan diferentes longitudes de onda de excitación del láser

Este documento proporciona información sobre la idoneidad de varios sustratos empleados comunes al preparar una muestra para el análisis de Raman. Algunos sustratos comunes pueden proporcionar fondos complejos, lo que puede complicar la interpretación de las bandas Raman de la muestra. Por lo tanto, es importante comprender qué opción es la más adecuada para una configuración de muestra y excitación determinadas.

AS026

Demuestre las interacciones entre capas en el grafeno

Abra nuevas áreas de investigación mediante el estudio de las interacciones entre capas en el grafeno y otros cristales bidimensionales, utilizando un microscopio Raman inVia equipado con filtros Eclipse.

AS027

Observe características de grafeno por debajo del límite de difracción usando la espectroscopia Raman de punta mejorada

Revele información altamente detallada sobre el grafeno realizando una espectroscopia Raman mejorada (TERS) por medio de un inVia combinado con un AFM. TERS utiliza una punta plasmónica especial para aumentar el campo eléctrico local en la muestra que, a su vez, aumenta la intensidad Raman.

AS028

TERS de una monocapa verde de malaquita

Analice volúmenes de muestra diminutos y dispersores Raman débiles usando inVia y TERS. La espectroscopia Raman de punta mejorada (TERS) utiliza una punta plasmónica especial para aumentar el campo eléctrico local en la muestra que, a su vez, aumenta la intensidad Raman. Estas puntas son muy pequeñas, con diámetros del orden de 10 nm a 100 nm, y se mantienen en contacto con la muestra utilizando un microscopio de sonda de barrido (SPM) o un microscopio de fuerza atómica (AFM).

AS030

Análisis de imágenes Raman de escamas de grafeno

Identifique la cantidad de capas de grafeno presentes en su muestra de forma rápida y fácil mediante el uso de imágenes StreamLine.

AS033

Localice y caracterice defectos en el SiC

Obtenga más información acerca de los defectos en el SiC con la generación de imágenes 3D de StreamLineHR. La Espectroscopia Raman es una potente herramienta investigar el SiC.

AS035

Visualice concentraciones de politipos, tensiones / estrés y nitrógeno en el SiC con inVia

Utilice StreamLineHR para crear imágenes de politipos, tensiones / estrés y dopado con nitrógeno en el SiC.

AS039

Mediciones Raman de grafeno

La alta especificidad de inVia permite que el grafeno se diferencie fácilmente de otros materiales, incluidos los alótropos del carbono, como el nanotubo de carbono y el diamante.

AS060

Caracterización de DLC con espectroscopia Raman in situ combinada y nanoindentación

Renishaw e Hysitron han combinado un microscopio Raman confocal inVia con el indentador TI 950 Tribolndenter, fabricando un sistema con capacidad para correlacionar directamente e in situ las mediciones de propiedades mecánicas con el análisis químico integral.