News release: Identifying imperfections with Raman spectroscopy (pdf)
Tamaño del archivo: 2,25 MB
Idioma: English
An article in Compound Semiconductor magazine, October 2015, describes how Raman spectroscopy allows routine mapping of SiC wafers in little more than an hour.
Este archivo necesita un visor, puede descargarlo gratis en Adobe
Últimos vídeos - Espectroscopía Raman
¿No ha encontrado lo que buscaba?
díganos lo que no ha podido encontrar y haremos lo posible para ayudarle