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Sistemas Raman híbridos

Aumente las posibilidades de su microscopio Raman Renishaw acoplándolo a otros sistemas de análisis de una amplia variedad de fabricantes.

Para obtener la máxima eficiencia, puede analizar su muestra con dos o más técnicas sin tener que cambiar entre instrumentos.

Con los sistemas de microscopía correlativos de Renishaw podrá estar seguro de estar analizando el mismo punto con ambas técnicas.

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Microscopio híbrido Raman invia

SPM/AFM: Resolución nanométrica

Combine el microscopio Raman inVia con un microscopio de sonda de barrido (SPM), como el microscopio de fuerza atómica (AFM) para investigar las propiedades químicas y estructurales de los materiales. Añada resolución química a escala nanométrica con TERS, y revele informaciones complementarias, tales como propiedades mecánicas.

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Sistema híbrido SEM-SCA-Raman

Sistema SEM-Raman

Agregue la capacidad de análisis del Raman inVia a un microscopio electrónico de barrido con la interfaz SEM-SCA de Renishaw. Utilice el SEM para grabar imágenes de alta resolución de su muestra y realizar análisis elemental usando rayos X. Identifique materiales y compuestos no metálicos, incluso cuando tengan la misma estequiometría.

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Nanoindentación: mediciones de las propiedades mecánicas

Combine la potencia del microscopio Raman inVia con mediciones de nanoindentación y correlacione directamente propiedades mecánicas y tribológicas como la cristalinidad, polimorfismo, fase y tensión/deformación con información química.

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Sistema Raman inVia Hysitron

Lea un artículo de la revista Microscopia y Análisis

  • Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]

    A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.

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