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Microscopio confocal Raman inVia™ InSpect

Nuestro microscopio Raman confocal más vendido, optimizado para análisis químico de trazas en laboratorios forenses.

Añada la espectroscopia Raman a su laboratorio y disponga de nuevas y poderosas capacidades que complementarán las técnicas existentes. El análisis es sin contacto y no destructivo y le permitirá observar pequeños detalles químicos empleando un microscopio óptico de grado de investigación.

Identifique materiales fácilmente, prácticamente sin necesidad de preparación, como polvos cristalinos duros, fragmentos de cerámica o de vidrio, y cuyo proceso con otras técnicas podría ser dificultoso o llevar más tiempo.

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Microscopio Raman inVia Inspect

Características

Su microscopio Raman inVia InSpect le ofrece:

  • Identificación altamente específica: la microscopía Raman puede diferenciar las estructuras químicas, incluso las que están estrechamente relacionadas.
  • Alta resolución espacial, comparable a sus otras técnicas microscópicas
  • Una gama de técnicas microscópicas de contraste, que incluyen campo claro, campo oscuro y contraste de polarización con luz reflejada y transmitida
  • Análisis de partículas: utilice algoritmos avanzados de reconocimiento de imágenes y funciones de control de instrumentos para caracterizar distribuciones de partículas
  • Imágenes correlativas: cree imágenes compuestas combinando datos Raman con imágenes de otras técnicas de microscopía

Para obtener información más detallada, descargue el folleto de inVia InSpect.

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Imagen Raman de una tableta de éxtasis

Empty Modelling™

El software Empty Modelling emplea una técnica de análisis multivariable para determinar los componentes principales de conjuntos de datos más complejos. Utilice esta técnica, junto con la búsqueda en diferentes bibliotecas, para analizar con éxito los datos de muestras que contengan materiales desconocidos.

Objetivo del microscopio Raman inVia

Mapeo StreamHR™

El mapeo StreamHR armoniza el funcionamiento del detector de alto rendimiento de los microscopios InSpect con la plataforma de microscopios MS30. Esto aumenta la velocidad de recopilación de datos y ahorra tiempo en la generación de imágenes.

Microscopio Raman inVia InSpect

Plena automatización

Puede controlar la alineación, la calibración y las configuraciones, todo desde el software WiRE de Renishaw. Por ejemplo, puede cambiar rápidamente, con un clic, entre la visualización de muestras y el análisis Raman.

Aplicaciones

Recopilación de evidencias de residuos de disparos

Residuo de disparo

El microscopio inVia InSpect proporciona un paquete completo para el análisis de residuos de disparos, independientemente de su origen, facilitando la detección e identificación de residuos orgánicos e inorgánicos. En esta nota, exploramos algunas de las ventajas y características clave de la técnica Raman para el análisis de GSR.

Descargue la nota de aplicación

Análisis de tintas en la falsificación de documentos

Falsificación de documentos

Hay muchos tipos diferentes de tintas; los colores pueden ser los mismos, pero químicamente pueden ser diferentes. El análisis Raman con el microscopio inVia permite realizar pruebas rápidas y no destructivas de las áreas cuestionadas, y distinguir específicamente tipos de tinta similares, que pueden ser visualmente idénticos.

Lea el artículo

Mantenga el enfoque en
tiempo real con LiveTrack

El microscopio inVia InSpect utiliza la tecnología de seguimiento de enfoque automatizado LiveTrack™ para adquirir, en tiempo real, espectros y datos topográficos precisos y repetibles de muestras con grandes variaciones de altura. Cree impresionantes imágenes en 3D de superficies irregulares, curvas o rugosas sin necesidad de escanear previamente. Vea el vídeo de ejemplo.

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Su representante local estará encantado de ayudarle con su consulta.
Puede contactar con él completando un formulario o enviándole un correo electrónico.

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Descargas: Microscopio Raman inVia InSpect

Especificaciones

Parámetro

Valor
Rango de longitud de ondaDe 200 nm a 2200 nm
Láseres compatiblesDe 229 nm a 1.064 nm.
Resolución espectral0,3 cm-1 (FWHM)
Mayor resolución típicamente necesaria: 1 cm-1
Estabilidad< ±0,01 cm-1Variación de la frecuencia central de la banda ajustada de 520 cm-1 del Si mediante medidas repetitivas. Lograda utilizando una resolución espectral de 1 cm-1 o mayor
Corte inferior de número de onda5 cm-1Menor valor típicamente necesario: 100 cm-1
Corte superior de número de onda30.000 cm-1Estándar: 4.000 cm-1
Resolución espacial (lateral)0,25 µmEstándar: 1 µm
Resolución espacial (axial)< 1 µmEstándar: < 2 µm Depende del objetivo y láser empleados
Tamaño de detector (estándar)1024 píxeles × 256 píxelesExisten otras opciones disponibles
Temperatura de funcionamiento del detector-70 °C
Compatibilidad con filtros RayleighIlimitadoHasta cuatro juegos de filtros en montaje automático. Juegos de filtros adicionales ilimitados compatibles con montaje de colocación precisa intercambiable por el usuario.
Número de láseres soportadoIlimitadoUno de serie Más de 4 láseres adicionales requieren montaje en una mesa óptica
Controlado por PC con WindowsÚltima especificación de PC con Windows®Incluye estación de trabajo PC, monitor, teclado y trackball
Tensión de red110 V CA a 240 V CA +10 % -15 %
Frecuencia de la red50 Hz o 60 Hz
Consumo de potencia típico (espectrómetro)150 W
Profundidad (sistemas de dos láseres)930 mmBase para dos láseres
Profundidad (sistemas de tres láseres)1116 mmBase para tres láseres
Profundidad (compacto)610 mmHasta tres láseres (depende del tipo de láser)
Peso típico (sin incluir los láseres)90 kg