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Combine las técnicas de generación de imágenes con el módulo Correlate™

Aproveche al máximo sus microscopios

El módulo Correlate™ permite comparar los resultados de Raman con un gran número de sistemas de microscopía utilizados más habitualmente, como Microscopía electrónica de barrido (SEM), fluorescencia, Microscopía de fuerza atómica (AFM), Infrarrojos y ópticos.

Resumen de características

  • Gestor de coordenadas: para importar y transformar coordenadas de los sistemas de microscopía más utilizados en su sistema Raman Renishaw
  • Herramienta de alineación de imágenes: con control del ritmo de traslación, rotación, cambio de tamaño y aspecto para superposición con transparencia variable
  • Mediciones por lotes: para automatizar la misma medición Raman en distintas posiciones de la muestra
Novedades:  Novedades:  Novedades: Novedades: Imágenes correlacionadas SEM y Raman

Fácil de utilizar

Solo tiene que registrar las coordenadas de tres o más puntos de referencia y los puntos de obtención de datos de la muestra. A continuación, el módulo Correlate le guía por las áreas de interés de las muestras después de transferirlas entre microscopios. De este modo, puede obtener los datos de las mismas ubicaciones y superponer las imágenes para una interpretación complementaria.

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Mueva la barra deslizante de esta imagen de una escama de ReS2 para ver una imagen AFM correlacionada con una imagen de luz blanca obtenida en un microscopio inViaTM . Al combinar los detalles topográficos de una imagen AFM y otras de distintos dominios de cristal de la imagen de luz blanca, obtiene la información completa de la muestra en una imagen.

El módulo Correlate forma parte del software WiRE 5.3 de Renishaw, y puede utilizarse con el microscopio confocal inVia, el Analizador Raman Virsa™ y la serie RA800.

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