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Sistemas Raman combinados/híbridos

Aumente la potencia analítica de su inVia acoplándolo a otros sistemas de análisis de una amplia variedad de fabricantes.

Para obtener la máxima eficiencia, puede analizar su muestra con dos o más técnicas sin tener que cambiar entre instrumentos. Con los sistemas de microscopía correlativos de Renishaw podrá estar seguro de estar analizando el mismo punto con ambas técnicas.

SPM/AFM: Resolución nanométrica

Combine inVia con un microscopio de sonda de barrido (SPM), como el microscopio de fuerza atómica (AFM) para investigar las propiedades químicas y estructurales de los materiales. Añada resolución química a escala nanométrica con TERS, y revele informaciones complementarias, tales como propiedades mecánicas.

SEM: imágenes de gran aumento y análisis elemental

Agregue la capacidad de análisis del Raman inVia a un microscopio electrónico de barrido con la interfaz SEM-SCA de Renishaw. Utilice el SEM para grabar imágenes de alta resolución de su muestra y realizar análisis elemental usando rayos X. Añada la potencia de Raman para identificar los materiales y compuestos no metálicos, incluso cuando tienen la misma estequiometria.

Nanoindentación: mediciones de las propiedades mecánicas

Realice mediciones para correlacionar directamente, in situ, las las propiedades mecánicas de la indentación con exhaustivos análisis químicos Raman.

CLSM: imágenes confocales

Si tiene muestras con estructuras complejas en 3D (células biológicas tal vez), puede agregar un microscopio de barrido láser confocal (CLSM) a su inVia y correlacionar imágenes de fluorescencia confocal con imágenes imágenes químicas Raman.

Combine para obtener más potencia

Las técnicas correlativas de imagen pueden proporcionar información única, que de otra manera permanecería oculta. Para obtener más información sobre cómo puede acoplar inVia a otros sistemas analíticos, póngase en contacto con nosotros.

Más información

Lea un artículo de la revista Microscopia y Análisis

El artículo siguiente fue publicado en abril del 2015 y se reproduce con la autorización de la revista Microscopia y Análisis y de la editorial Wiley.

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