Sistema AFM-Raman

Amplíe sus conocimientos sobre nanoescalas

La combinación de instrumentos AFM/Raman (también denominada SPM-Raman) permite realizar un mejor análisis mediante la investigación química y estructural de las propiedades de los materiales a escalas con distancias inferiores al micrómetro.

Renishaw ha desarrollado una tecnología de acoplamiento directo optimizado que convierte al microscopio inVia Raman en el compañero perfecto para acoplar una extensa gama de SPM, con Espectrografía Raman de punta mejorada (TERS), técnicas de aislamiento bajo (SNOM, NSOM) y funciones Raman-AFM.

El microscopio inVia Raman dispone de potencial de acoplamiento con cualquier SPM o AFM, con sistemas totalmente integrados disponibles con escáneres NT-MDT y Nanonics Imaging Ltd.

Visualización nanotecnológica y sistemas de análisis para la industria y la investigación

Aumente la productividad

Sólo Renishaw le ofrece sistemas totalmente integrados con los escáneres NT-MDT y Nanonics Imaging Ltd. Los sistemas AFM-Raman de Renishaw proporcionan lo siguiente:

• Más tiempo libre con los sistemas integrados: la integración mecánica y el software es completa, por tanto, puede concentrarse en la recolección de datos y análisis
• Recolección de datos más rápida: el acoplamiento directo entre la muestra y el espectrómetro Raman proporciona la máxima eficacia en cualquier configuración
• Confíe en los expertos: las primeras mediciones TERS en un semiconductor (publicadas en 2001) y las primeras mediciones Raman-AFM/NSOM (publicadas en 1995) se realizaron con los sistemas Raman de Renishaw
• Usted elige: Renishaw tiene la experiencia y el conocimiento para integrar el sistema SPM de su elección.

¿Cómo puede ayudarle un sistema Raman-SPM de Renishaw?

AFM con Raman
Proporciona datos de sonda de exploración de alta resolución espacial, combinados con datos Raman rápidos de aislamiento alto (normalmente, resolución inferior al micrómetro). Los datos Raman pueden registrarse y correlacionarse con datos topográficos de alta resolución espacial, eléctricos, térmicos y ópticos de aislamiento bajo.

El análisis Raman de una muestra de grafeno (véase la imagen a la derecha) identifica cinco grosores distintos de la estructura, incluidas las regiones de una y dos capas. Se han utilizado datos Raman para conducir los experimentos de SPM y realizar mediciones topográficas, capacitativas y conductoras en las áreas de interés.

TERS (o aislamiento bajo sin apertura Raman)
Se utiliza una punta para ampliar la señal Raman en una región muy localizada de una muestra, mientras se ilumina un área mayor con el haz láser. Esta configuración proporciona la máxima resolución espacial en cualquier técnica Raman.

La sensibilidad espacial superior de TERS puede demostrarse mediante materiales en capas. La imagen opuesta compara los espectros de aislamiento bajo (TERS) y alto de una capa delgada de silicio en SiGe. La sensibilidad de superficie superior de TERS genera una banda Raman de silicio mucho más intensa (a una frecuencia Raman inferior a la banda SiGe Raman del conjunto).

Para obtener más información sobre cómo esta tecnología puede ayudarle a aumentar sus conocimientos de nanoescalas, o sobre cómo integrar cualquier modelo SPM o AFM en el microscopio inVia Raman, rellene el formulario de solicitud en línea o consulte a su representante local de Renishaw Raman.