Sistemas combinados Raman-SPM/AFM

Raman-SPM/AFM

Puede combinar la potencia de inVia con microscopios de sonda de barrido (SPM y AFM) para investigar la composición, estructura y propiedades de los materiales a escala nanométrica.

Elija el mejor sistema

Imagen topográfica AFM (A) e imagen TERS de nanotubos de carbono (B).inVia es increíblemente flexible; Renishaw puede acoplarlo directamente a una amplia gama de AFM y SPM de proveedores como:
  • Bruker Nano Surfaces
  • Nanonics
  • NT-MDT
  • JPK
  • Park

Elija el mejor SPM/AFM para sus necesidades.

Imagen: Imagen topográfica AFM (A) e imagen TERS de nanotubos de carbono (B). La imagen TERS ofrece información con muy alta resolución espacial sobre la distribución de tubos funcionalizados en haces de tubos.

TERS: dispersión Raman de punta realzada

Sistemas inVia-AFM seleccionados pueden realizar la dispersión Raman de punta realzada (TERS). Esta apasionante técnica utiliza una punta afilada plasmónica para obtener información química a escala nanométrica.

El mapeo TERS complementa a StreamLine™ y StreamLineHR™, proporcionándole flexibilidad para estudiar sus muestras con la resolución que desee.

Máxima eficiencia

El brazo de acoplamiento flexible, especialmente diseñado por Renishaw, se puede utilizar para integrar ópticamente inVia en un SPM / AFM. Utiliza espejos para dirigir la luz, proporcionando una mayor eficiencia de acoplamiento que la fibra óptica. Puede conseguir espectros más rápidamente y con mayor relación señal-ruido.

La alineación es fácil. Todos los sistemas combinados disponen de un sistema video incorporado con iluminación de luz blanca para que pueda ver claramente la punta de la sonda y el punto láser Raman juntos, lo cual es crítico para los trabajos TERS.

Mismo lugar, mismo tiempo

Puede tener confianza en sus datos. Puede adquirir simultáneamente datos Raman y AFM del mismo punto sobre la muestra sin tener que moverlo. Esto asegura que sus datos sean consistentes, incluso si la muestra cambia con el tiempo.

Un sistema combinado

El análisis es co-localizado: no tiene que mover su muestra entre los sistemas y luego laboriosamente intentar encontrar el mismo punto de interés.

Dos usuarios pueden utilizar inVia y SPM/AFM independiente y simultáneamente, sin que se comprometa el rendimiento de ambos. Usted tiene un sistema Raman, un sistema de SPM/AFM y un sistema Raman-SPM/AFM combinados.

Elegir el mejor sistema

Los expertos en SPM de Renishaw estarán encantados en discutir sobre sus necesidades específicas y recomendarle la mejor manera de integrar inVia en su sistema SPM/AFM. Póngase en contacto con nosotros y descubra cómo esta tecnología puede extender su conocimiento de la nanoescala.

Galería de imágenes