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Semiconductores

La electrónica moderna utiliza una amplia gama de materiales semiconductores. Dispositivos de vanguardia, como transistores, células solares y diodos emisores de luz, llevan las propiedades de los materiales al límite, y requieren utilizar materia prima extremadamente homogénea. La Espectroscopía Raman es una herramienta ideal para estudiar los semiconductores.

Caracterice semiconductores

Puede utilizar Raman para caracterizar y generar imágenes de todos los semiconductores (por ejemplo, silicio, compuestos basados en carbono, semiconductores de los grupos III a V y polímeros) y superconductores. Puede desvelarse una amplia variedad de información, entre ella:

  • composición química (por ejemplo, fracciones de aleaciones de semiconductores compuestos)
  • politipos (por ejemplo 4H-SiC y 6H-SIcC)
  • tensiones/esfuerzos
  • concentraciones de dopantes
  • grosor de películas delgadas
  • tipo de estructura cristalina y orientación
  • calidad del cristal
  • uniformidad y pureza
  • temperatura del dispositivo

Análisis fácil

El análisis Raman es sencillo, ya que no requiere preparar la muestra. No requiere tecnología de vacío, ni sufre los efectos de carga experimentados con la microscopía electrónica.

Renishaw puede configurar su sistema Raman para que se adapte a todos los usuarios, desde los científicos de investigación hasta los técnicos.

Análisis de grandes superficies
Los sistemas Raman de Renishaw pueden analizar muestras muy grandes. Por ejemplo, puede generar imágenes de obleas enteras para descubrir contaminantes o tensiones residuales.

Caracterización PL
Los sistemas Raman de Renishaw también le permiten colectar y analizar espectros de fotoluminiscencia (PL). Puede obtener tanto información vibracional como electrónica con un solo instrumento.

Sistemas en línea
Añada los sistemas Raman a su línea de producción para llevar a cabo análisis en línea para fines de control de calidad. Diagnostique los problemas a tiempo, reduzca las pérdidas y mejore el rendimiento.

Resultados fiables
Los sistemas Raman de Renishaw producen resultados altamente repetibles que representan la muestra con precisión. Su calibración automática y su comprobación interna de funcionamiento incorporadas aseguran que los datos se puedan comparar con precisión, no importa cuando se colecten.

Vea un vídeo

Descargue una nota de aplicación

  • Application note: Analyse silicon carbide (SiC) with the inVia Raman microscope (pdf) Application note: Analyse silicon carbide (SiC) with the inVia Raman microscope (pdf) [en]

    The properties of silicon carbide are highly dependent on its crystal structure (it can exist in many polytypes), on the quality of the crystal, and on the number and types of defects present. Manufacturers of silicon carbide raw material and devices need to monitor and control these attributes to enhance yield. The first step in controlling these parameters is to measure them repeatably and quantifiably. Renishaw’s Raman systems are ideal for this.

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