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Documentación sobre sistemas combinados/híbridos

Nota de producto

  • Product note: Co-located SEM-Raman imaging system Product note: Co-located SEM-Raman imaging system [en]

    Renishaw’s SEM-Raman system provides truly co-located analysis Renishaw’s SEM-Raman system is unique. You can simultaneously acquire both SEM (scanning electron microscope) and Raman data from the same area on the sample. You do not have to transfer the sample to a different measurement location or instrument; this ensures rapid truly correlative analysis. You will avoid the sample registration issues that can occur when moving samples between measurement locations.

  • Product note: SCA - diamond composite analysis Product note: SCA - diamond composite analysis [en]

    Renishaw’s structural and chemical analyser unites two well-established technologies, scanning electron microscopy (SEM) and Raman spectroscopy, resulting in a powerful new technique which allows morphological, elemental, chemical, physical, and electronic analysis without moving the sample between instruments.

  • Application note: A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy Application note: A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy [en]

    Electron imaging and Raman spectroscopy are established techniques for viewing and analysing carbon nanotubes. Performing these two techniques usually requires the sample being transferred between a scanning electron microscope (SEM) and a Raman spectrometer. This application note illustrates the advantages of Renishaw’s structural and chemical analyser (SCA) for simultaneous secondary electron imaging and Raman spectroscopy of single-wall carbon nanotubes (SWNTs).

  • SCA oxidation application note - cultural heritage SCA oxidation application note - cultural heritage [en]

    SEM-SCA analysis helps in the preservation of a corroding bronze statue of the Roman god Ares from the ancient city of Zeugma in Turkey.

  • Inverted microscopes for inVia Inverted microscopes for inVia [en]

    Product note: Enabling you to view large samples or biological specimens from below, rather than above, Renishaw's inVia Raman spectrometers can be equipped with inverted microscopes instead of, or in addition to, the standard upright microscopes.

  • Renishaw Raman-AFM/TERS solutions Renishaw Raman-AFM/TERS solutions [en]

    Product note - Combined Raman/AFM (atomic force microscope) systems are excellent for characterising the properties of materials at sub-micrometre, and potentially nanometre, scales.Tip-enhanced Raman scattering (TERS) provides chemical imaging at the nanometre scale, enabling you to take your research to a whole new level.

Ejemplos de aplicaciones

También hemos elaborado una variedad de ejemplos de aplicaciones, entre los que se incluyen los siguientes.

Si necesita más información, contacte con su representante local utilizando el botón que aparece a continuación y cite la referencia del documento que corresponda.  

Referencia del documentoDescripción del documento
AS024

Imágenes AFM y Raman 3D de células de glioma

Revele información detallada y complementaria sobre la composición de las células de glioma mediante microscopía de fuerza atómica (AFM) e imágenes Raman 3D. La topografía AFM, con resolución espacial nanométrica, identifica claramente las estructuras celulares, pero no sus composiciones químicas. Al comparar y correlacionar las topografías AFM con la información química adicional de las imágenes Raman 3D, los investigadores pueden obtener una mejor comprensión de la célula.

AS027

Observe características de grafeno por debajo del límite de difracción usando la espectroscopia Raman de punta mejorada

Revele información altamente detallada sobre el grafeno realizando una espectroscopia Raman mejorada (TERS) por medio de un inVia combinado con un AFM. TERS utiliza una punta plasmónica especial para aumentar el campo eléctrico local en la muestra que, a su vez, aumenta la intensidad Raman.

AS028

TERS de una monocapa verde de malaquita

Analice volúmenes de muestra diminutos y dispersores Raman débiles usando inVia y TERS. La espectroscopia Raman de punta mejorada (TERS) utiliza una punta plasmónica especial para aumentar el campo eléctrico local en la muestra que, a su vez, aumenta la intensidad Raman. Estas puntas son muy pequeñas, con diámetros del orden de 10 nm a 100 nm, y se mantienen en contacto con la muestra utilizando un microscopio de sonda de barrido (SPM) o un microscopio de fuerza atómica (AFM).