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Sistema SEM-Raman

El sistema SEM-Raman le proporciona una completa caracterización de muestras in situ en un solo sistema. Redefina el significado de los términos conveniencia, eficiencia y productividad combinando estas dos tecnologías.

La interfaz de análisis químico y estructural (SCA) incorpora las posibilidades de medida puntual y mapeo del análisis Raman inVia a los microscopios electrónicos de barrido (SEM).

Raman + SEM

inVia y la interfaz SCA proporcionan una técnica analítica in-SEM que complementa la Espectroscopía Raman basada en microscopio y supera las limitaciones de la Espectroscopía de energía dispersiva de rayos X (EDS), la tradicional en la técnica analítica in-SEM. Con el sistema de SEM-Raman de Renishaw, se beneficiará del análisis co-localizado morfológico, elemental, químico, físico y electrónico.

Utilice el SEM para tomar imágenes de alta resolución de su muestra y realizar un análisis elemental. Agregue a su sistema la potencia Raman para obtener imágenes e información química. Identifique materiales y no metales, incluso cuando tengan la misma estequiometría.

El SEM-SCA e inVia son totalmente compatibles, no sólo con Raman sino también con la Espectroscopía de fotoluminiscencia (PL) y catodoluminiscencia (CL).

Un sistema combinado para el análisis co-localizado.

Con un sistema combinado ahorra un valioso tiempo. No tiene que mover sus muestras entre dos instrumentos y arriesgarse a analizar una zona errónea de la misma.

Tanto inVia como SEM pueden utilizarse como sistemas independientes, o simultáneamente, sin comprometer su rendimiento. Dispone de un sistema Raman, un sistema SEM y un sistema Raman-SEM combinado.

Imágenes SEM-Raman

Puede determinar las variaciones espaciales en la tensión / deformación y caracterizar los defectos utilizando la etapa de mapeo in-SEM opcional en el sistema SEM-SCA. Con ello, puede crear imágenes de las propiedades moleculares y cristalinas de los materiales complejos.

En el mismo lugar, al mismo tiempo

Confíe en sus datos: adquiera simultáneamente datos Raman y SEM del mismo punto sobre la muestra sin tener que moverla. Esto garantiza que el análisis sea rápido y que sus datos sean representativos.

Elija el mejor sistema

Puede añadir la interfaz SCA de Renishaw a su actual sistema SEM. Va montado en un puerto, por lo que no necesita modificar el SEM en absoluto. La interfaz SCA se ha instalado en los SEM de los principales proveedores, como:

  • Zeiss
  • FEI
  • TESCAN
  • JEOL
  • Hitachi

Más información

Descargue una nota del producto

  • Product note: Co-located SEM-Raman imaging system Product note: Co-located SEM-Raman imaging system [en]

    Renishaw’s SEM-Raman system provides truly co-located analysis Renishaw’s SEM-Raman system is unique. You can simultaneously acquire both SEM (scanning electron microscope) and Raman data from the same area on the sample. You do not have to transfer the sample to a different measurement location or instrument; this ensures rapid truly correlative analysis. You will avoid the sample registration issues that can occur when moving samples between measurement locations.

    [407kB]

Elegir el mejor sistema

Póngase en contacto con los expertos en SEM de Renishaw y comente sus requisitos específicos.

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